无机材料测试技术复习题.docVIP

相干散射波长不变的散射,又称经典散射. 系统消光由原子在晶胞中的位置不同而引起某些方向上衍射线的消失称为系统消光. 粉晶衍射仪法 利用X射线的电离效应及荧光效应，由辐射探测器来测定记录衍射线的方向和强度。 微商热重分析能记录TG曲线对温度或时间的一阶导数的一种技术，也即质量变化速率作为温度或时间的函数被连续记录下来。 特征X射线具有特定波长的X射线 X射线强度是指垂直于x射线传播方向的单位面积上在单位时间内通过的光子数目的能量总和。 步进扫描 将计数器在某2θ位置停下来，然后再足够长的时间内进行定时计数，测完后使2θ转过一个适当的小角度。 指标化 确定个衍射线衍射指标的工作。 AES俄歇电子能谱 TEM 透射电镜 EPMA 电子探针工 F 结构因子 弹性散射原子核对入射电子的散射作用，只改变电子运动方向。 多重性因子指同一晶族的等同晶面 ICTA 国际热分析协会 景深:透镜物平面允许的轴向偏差. 焦深:透镜像平面允许的轴向偏差. 衬度:是指试样不同部位由于对入射电子作用不同,在显示装置上显示的强度差异. 衬度像:二次电子像、背散射电子像. 为什么不能分析轻元素轻元素产生的波长太长,无法探测到 二次电子:入射电子与样品相互作用后,使样品原子较外层电子电离产生的电子. 二次电子像是表面形貌衬度,它是利用对样品表面形貌变化敏感的物理信号作为调节信号得到的一种像衬度 背散射电子:入射电子与样品相互作用之后,再次逸出样品表面的高能电子. 吸收电子入射电子与试样相互作用后,能量耗尽的电子 散射电子像是原子序数衬度,它是利用样品微区原子序数或化学成分变化敏感的物理信号作为调制信号得到像衬度 电子探针工作原理:用聚焦电子束照射在试样表面待测的微小区域上,激发试样中诸元素的不同波长的特征X射线,用X射线谱仪探测这些X射线,得到X射线谱,根据波长不同进行定性分析,根据特征X射线强度进行定量分析 电子探针分析方法方法:定点定性分析、线扫描分析、面扫描分析和定点定量分析. 热分析方法:1热重测量法TG 2差热分析DTA 3差示扫描量热法DSC 4热膨胀测量法 差热分析仪基本结构:1加热炉2温度控制系统3信号放大系统4差热系统5记录系统 (DTA)曲线是指试样与参比物间的温度差曲线和温度曲线的总称. 零线:以记录起始点为起点所作平行于横坐标的理想直线表示试样和参比物间温度差为零. 基线即 T近似于0的部分,该段曲线指示试样发生吸收热效应产生. 吸热峰偏离基线向下而后又回到基线的部分,试样发生吸热效应所致 放热峰偏离基线向上而后又回到基线的部分,试样发生放热效应所致 DSC(差热扫描法):在程序控制温度下，测量输入到物质和参比物的功率差与温度关系的一种技术 TG曲线是热重曲线TG和温度曲线T的总称 最基本的衍射实验方法有三种:粉末法,劳厄法,转晶法 JCPDS卡片索引手册:字顺索引,哈那瓦尔特索引,劳克法索引,常见物相索引. 莫赛来定律:它表明只要是同种原子,不论它所处的物理状态和化学状态如何,它发出的特征X射线均具有相同的波长 俄歇效应:以X射线产生X射线,但该射线不辐射出而是再激发其它电子的过程. 布拉格方程:2dSinθ =nλ 吸收限:一个特征X射线谱系的临界激发波长.应用:合理地选用滤波片材料和辐射源的波长(即选阳极靶材料)以便获得优质的花样衍射. 绝对强度(累积强度或积分强度):指某一组面网衍射的X射线光量子的总数. 相对强度:是用某种规定的标准去比较各个衍射线条的强度而可得出的强度相对比值. 产生衍射的充分条件:满足布拉格方程且Fhkl结构因子不等于零. 影响衍射强度的因素:多重性因子P,结构因子F,角因子（1+Cos22θ）/Sin2θCosθ,温度因子e-2M,吸收因子A 透射电镜TEM样品制备方法:直接法:粉末颗粒样品、超薄切片、直接薄膜样品 间接法:一级复型、二级复型 半直接法:萃取复型. 扫描电子显微镜SEM镜成像信号:二次电子(最主要),背散射电子或吸收电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子. EM的主要工作方式有：发射方式、反射方式、吸收方式、投射方式、俄歇电子方式、X射线方式、阴极发光方式、感应信号方式 DTA中用参比物稀释试样的目的是： 减少被测样品的数量 滤波片的K吸收限应刚好位于Kα和 Kβ 之间，且大于 Kβ，小于Kα 。 衍射花样由两个方面组成：一方面是 衍射线在空间的分布规律，另一方面是 衍射线束的强度 。 景深是指在保持 透镜焦距、相距一定前提下，试样在透镜物平面上下沿镜轴所允许移动的距离。 SEM的主要性能有： 1、放大倍数2、分辨率