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二极管参数测试瞬态热阻与测量时间tMD关系).pdf
关于车用二极管瞬态热阻与测量时间tMD 关系的浅解
测试设备：DVF-92A 二极管瞬态热阻测试系统
设备制造商：金华市华强电子科技有限公司
鉴于国内、外专家的长期研究、剖析、论断：瞬态热阻是功率半导体主要指标，直接关系到器件的额定电流、
峰值压降、耗散功率和最高结温以及抗拉特性等电和机械的基本参数，是器件诸多质量指标的表证。
在现场测试应用中，加热能量Q、 测量时间tMD （采样点t2 ）和测试电流Im与ΔVF有着十分密切的关系，故
ΔVF值用于商业行为时， Q 、Im 以及tMD 必须加以明确的约定，以便界定。
我曾做过这样一组关于瞬态热阻与测量时间tMD 关系的测试，所使用测试设备为公司自主研发的自动化测试
统——《DVF-92A二极管瞬态热阻测试系统》，该系统自动测试与分检功能、性价比、技术指标在业内颇受好评，
现将测试结果整理如下，此管窥之辞仅供参考。
（以下数据由DVF-92A 二极管瞬态热阻测试系统—PC 机通讯软件自动记录统计）
17:18:29 DVF-92A测试报告:2009年2月 16日 17:18:29 星期一 (中国-北京时间)
测试 VFm ΔVF
项目
It(A) t (uS) VFm(V) It(A) t(mS) Im(mA) t2(uS) ΔVF(mV) 备 注 Sum. ΔVF (mV) Ave. ΔVF (mV)
No.
1 100 1,000 1.049 100 100.0 100 10,000 30.6 tMD 10ms
2 100 1,000 1.045 100 100.0 100 10,000 30.6 tMD 10ms 91.600 30.5
3 100 1,000 1.043 100 100.0 100 10,000 30.4 tMD 10ms
4 100 1,000 1.045 100 100.0 100 9,000 31.1 t =9ms
MD
5 100 1,000 1.043 100 100.0 100 9,000 30.8 t =9ms 92.500 30.8
MD
6 100 1,000 1.040 100 100.0 100 9,0
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