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2004年09月01日质量专业理论与实务（中级）[3] 一、单选[共5题，每题1分，总计5分] 1、一种电子元件的正常寿命服从λ=0.1的指数分布，则这个电子元件可用时间在100小时之内的概率为（ ）。 A．99.95% B．99.85% C．99.05% D．99.99% 2、随机变量X的平均值为5，标准差也为5，随机变量Y的均值为9，方差为16，则V＝2X+3Y的均值与方差为（ ）。 A．37，164 B．37，244 C．22，164 D．22，244 3、下列不是用来描述样本集中位置的统计量的是（ ）。 A．样本均值 B．样本中位数 C．样本众数 D．样本标准差 4、判定点估计优良性的标准有（ ）。 A．简易性与准确性 B．准确性与有效性 C．无偏性与有效性 D．无偏性与简易性 5、已知X服从指数分布Exp(λ)，其概率密度函数为：P(X)=λe-λX，X≥0 在λ=0.1情况下，P(5≤X≤20)＝（ ）。 A．0.1353 B．0.6065 C．0.4712 D．0.7418 6、正态方差σ2的无偏估计是（ ）。 A． B． C． D． 7、以下字母不是常用来表示随机变量的是（ ）。 A．X B．Y C．Z D．y 8、当分布在散布图上的点可能毫无规律，不过也不能完全否定这些点表示的变量间存在某种曲线的趋势，此时相关系数（ ）。 A．r=0 B．r＝±1 C．r＞0 D．r＜0 9、对于曲线回归方程的比较，以下不属于其常用到的准则的是（ ）。 A．要求相关指数R大 B．要求残差平方和小 C．要求标准残差S小 D．要求决定系数小 10、某车间从生产线上随机1000个零件进行检验，发现5个产品有A类不合格；4个产品有B类不合格；2个产品既有A类又有B类不合格；3个产品既有B类又有C类不合格；5个产品有C类不合格，则该批产品中各类不合格数和不合格品数的计算正确的是（ ）。 A．A类不合格：7 A类不合格品：7 B．B类不合格：8 B类不合格品：7 C．C类不合格：8 C类不合格品：6 D．合计不合格数：23 合计不合格品数：20 11、二项分布计算法的公式是（ ）。 A． B． C． D． 12、对一批轴承用的钢球10万个进行外观检验，采用(100，15)的抽检方案，当p=10%时Pa为（ ）。 A．0.951 B．0.851 C．0.751 D．0.651 13、计数调整型加严检验设计的主要目的是（ ）。 A．提高对生产方交检批的质量要求 B．保护使用方利益 C．扩大生产方的生产能力 D．检索抽样方案 14、某产品有5个质量特性，根据其重要程度不同分为A、B、C三类不合格，若对批量N=2000 件进行全数检验，发展5个产品有不合格项，结果如下： 产品编号 A类不合格数 B类不合格数 C类不合格数 3 1 0 2 7 0 1 1 12 1 1 0 19 0 1 2 20 0 0 3 则：其中C类不合格品数为（ ）。 A．1 B．2 C．3 D．4 15、设电阻规范下限为95Ω，规范上限为105Ω，过程能力指数为（ ）。 A．3/5 B．5/6 C．6/5 D．5/3 16、对于双侧公差情况下，过程能力指数的公式是（ ）。 A．CP== B．CPU= C．CPL= D．CP= 17、产品可靠性与（ ）无关。 A．规定时间 B．规定条件 C．规定功能 D．规定维修 18、（ ）是产品的可靠性、维修性和维修保障的综合反映。 A．使用可用性 B．固有可用性 C．基本可靠性 D．任务可靠性 19、平均修复时间表达式为（ ）。 A．MTTR= B．MTTR= C．MTTR= D．MTTR= 20、元器件计数法适用于产品设计开发的（ ）。 A．早期 B．中期 C．详细设计期 D．定稿期 21、对可靠性实验叙述错误的是（ ）。 A．可靠性实验是实验室的实验 B．环境应力筛选试验不能提高产品固有可靠性，但通过改进设计和工艺等可以提高产品的可靠性水平 C．可靠性增长试验是通过发现故障，分析和纠正故障，以及对纠正措施的有效性而进行验证以提高产品可靠性水平的过程 D．可靠性测定试验的目的是通过试验测定产品的可靠性水平 22、产品的累积故障分布中最简单的分布是（ ）。 A．威布尔分布 B．对数正态分布 C．二项分布 D．指数分布 23、产品的可靠性框图是用方框的形式表示产品中各单元之间的功能（ ），产品原理图表示产品各单元的（ ）。 A．逻辑关系，物理关系 B．物理关系，逻辑关系 C．逻辑关系，统计关系 D．物理关系，统计关系 24、故障模式发生的概率等级中，（ ）产品在工作期间发生故障的概率很高，即一种故障模式发生的概率大于总故障概率的0.2。 A．B级（很可能发生） B．A级（经常发