GB/T 23413-2009纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定　X射线衍射线宽化法.pdf

犐犆犛１９．１００ 犖７８ 中华人 民共和 国国家 标准 ／ — 犌犅犜２３４１３ ２００９ 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 犡射线衍射线宽化法 — 犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳犮狉狊狋犪犾犾犻狋犲狊犻狕犲犪狀犱犿犻犮狉狅狊狋狉犪犻狀狅犳狀犪狀狅犿犪狋犲狉犻犪犾狊 狔 犡狉犪 犱犻犳犳狉犪犮狋犻狅狀犾犻狀犲犫狉狅犪犱犲狀犻狀 犿犲狋犺狅犱 狔 犵 ２００９０４０１发布 ２００９１２０１实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 ／ — 犌犅犜２３４１３ ２００９ 前 言 　　 本标准的附录 为规范性附录。 Ａ 　　 本标准由全国微束标准化技术委员会提出并归口。 本标准起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院。 本标准主要起草人：方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍。 Ⅰ ／ — 犌犅犜２３４１３ ２００９ 引 言 　　 晶粒尺寸和微观应变对纳米晶功能材料的电磁、光电、催化等性能和结构材料的相变强化、形变强 　　 化等强韧化性能有着十分重要的影响。因此，这两个结构参数的规范化测定对于纳米晶材料的基础研 究和产品开发有着重要的理论意义和实用价值。而目前的多数实验室的测试方法不够规范和统一，从 而使得对同一样品在不同实验室测定的数据有较大的差别。 目前较为常用的测定纳米级晶粒尺寸及微观应变的数据处理方法主要有：近似函数法，瓦伦 艾弗  巴赫（ ）傅氏分析法、方差分析法和 全谱图拟合法等。根据目前大多数实验 ＷａｒｒｅｎＡｖｅｒｂａｃｈ Ｒｉｅｔｖｅｌｄ 室可以达到的测试水平，以及目前在纳米晶测定方面的文献所采用的方法，在该标准中采用近似函数法 作为纳米级晶粒尺寸和微观应变的分析方法。 Ⅱ ／ — 犌犅犜２３４１３ ２００９ 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 犡射线衍射线宽化法 １ 范围