XRD定量分析实例演示.ppt

单物相成分定性分析 一、打开XRD图普文件 二、对图谱进行处理 对XRD图谱进行K α2去除和图谱的平滑处理 三、对图谱进行寻峰 根据图谱的实际情况设置寻峰条件，对图谱进行寻峰 经过寻峰得出峰的相应参数 寻峰后所得的峰参数如图所示，包括峰的位置、晶面间距、强度、半峰宽等 四、进行衍射峰的匹配 设定峰形匹配参数进行衍射峰匹配 经过衍射峰的匹配，得出定性结果，本张衍射图谱所对应样品的物相成分为SiO2。 多物相成分的定性分析 一、打开衍射图谱 二、对图谱进行平滑等处理 三、设置寻峰参数进行寻峰 经过寻峰得到该图谱的衍射峰数据包括峰位、峰强、半峰宽、晶面间距等。 四、根据实际情况设置峰匹配参数并进行峰匹配 经过峰匹配后得出定性结果该样品所含的混合相有CaCO3、Al2O3、SiO2 RIR值法物相半定量分析 以刚才我们定性分析的多物相混合样品为例，要进行半定量，首先要进行定性分析，在定性分析的基础上，再应用RIR值法进行半定量分析。根据刚才定性的分析结果。该样品所含的物相成分为： CaCO3、Al2O3、SiO2。我们通过数据库查寻，查找这三物相的相应 RIR值，然后进行RIR值法半定量原理进行半定量计算，得出半定量结果如图。 全谱拟合法物相半定量分析 全谱拟合法是应用Rietveld程序对所测图谱进行全谱拟合来进行物相的半定量分析。我们还是以刚才分析的样品为例。 一、打开XRD图谱文件 二、对图谱进行平滑等处理 三、设置寻峰参数进行寻峰 经过寻峰得到峰的相应参数 四、导入CaCO3、SiO2、Al2O3三物相的结构数据 五、设置并调整拟合参数进行多次拟合直至得到最佳拟合结果 经过多次拟合得到最佳的拟合结果，拟合结果的好与坏有一系列的评判参数如上图。 六、拟合完毕得到各物相的半定量结果 全谱拟合法求结晶度 一、对样品的衍射图谱进行处理和定性分析 从上图我们可以看图该图谱有一明显的非晶衍射峰胞。晶相部分的定性结果为：莫来石与石英。 二、加入16%的CaCO3标样进行录谱，所得图谱如下。 三、对加入标定的图谱进行处理和Rietveld全谱拟合 四、拟合完毕得到结晶相的半定量结果 五、根据所加标样实际量重新计算各结晶相及非晶态化合物含量 纳米材料晶粒度的计算 一、打开XRD图谱文件 二、对图谱进行平滑等处理 三、选取所要测物相的最佳衍射峰进行峰形拟合计算，求出峰的准确参数。 四、根据所求的峰参数及仪器宽化，利用谢乐公式求出晶粒尺寸。 思考题 如何确定材料是晶态或非晶态，为什么？ X射线粉末衍射仪有哪些应用，试举例并说明分析方法、目的及意义。 试述纳米晶粒尺寸测定的方法与原理。 试分析材料的化学成分与物相成分的区别与联系，它们分别可以利用哪些仪器进行标定，这些仪器对它们的标定各有什么优缺点？ 谢谢！