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程序号:PX/QS2-29-2004
统计过程控制管理程序 版次/修订:1/0
共 11 页 第 1 页
1、目的
通过SPC,识别过程变差的原因,针对原因采取措施,消除原因,减少过程
变差。
2、范围
适用于公司SPC。
3、术语
引用SPC 手册中附录G 的术语及符号。
4、职责
技术质量部负责SPC,其他部门配合。
5、工作程序
5.1 本公司统计过程控制采用的方法:
a) 计数型数据:采用 P 控制图,计算过程能力(即PPM 值)。
b) 计量型数据;采用 X—R 控制图,计算 Ppk 和Cpk。
5.1.1X—R 控制图的绘制和使用
A、收集数据
数据是以样本容量恒定的小子组的形式报出的,这种子组通常包括 2-5 件
连续的产品,并周期性的抽取子组(例如:每 15 分钟抽样一次,每班抽取两次
等)。应制定一个收集数据的计划并将它作为收集、记录及将数据画到控制图上
的依据。
A.1 选择子组大小、频率和数据
a. 子组大小:一般由 4-5 件连续生产的产品的组合,仅代表单一刀具、冲
模板等生产出的产品。
b. 子组频率:应当在适当的时间收集足够的子组,一般对正在生产的产品
进行监测的子组频率可以是每班两次、每小时一次或其他可行的频率。
c. 子组数的大小:一般情况下,包含100 或更多单值读数的25 或更多个子
组数可以很好的用来检验稳定性。
A.2 建立控制图及记录原始数据
X—R 图通常是将X 图画在R 图之上方,下面在接一个数据栏。X 和R 的值
为纵坐标,按时间先后的子组为横坐标。数据值以及极差和均值点应纵向对齐。
数据栏应包括每个读数的空间。同时还应包括记录读数的和、均值(X)、极差
(R)以及日期或其他识别子组的代码的空间。填入每个子组的单个读数及识别
代码。
A.3 计算每个子组的均值(X)和极差(R)
画在控制图上的特性量是每个子组的样本均值(X)和样本极差(R),合在
一起后它们分别反映整个过程的均值及其极差。
对于每个子组,计算:
程序号:PX/QS2-29-2004
统计过程控制管理程序 版次/修订:1/0
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X +X +…+X
1 2 n
X=
n
R=X 最大值—X 最小值
式中:X +X +…+X 为子组内的每个测量值。n 为子组的样本容量
1 2 n
A.4 选择控制图的刻度
两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的测量值。对于 X 图,坐标上的刻度
值的最大值与最小值之差应至少为子组均值的最大值与最小值差的2 倍。对于 R
图,刻度值应从最低值为 0 开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大
极差的2 倍。
A.5 将均值和极差画在控制图上
将均值和极差分别画在其各自的图上将各点用直线连接起来从而得到可见
的图形和趋势。简要的浏览一下所有画上去的点,看是否合理,如果有的点高
的很多或者低的很多,需确认计算和画图是否正确,应确保所画的 X 和 R 点在
纵向是对应的。
B、计算控制限
B.1 计算平均极差(R
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