GB/T 5095.2503-2021电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减.pdf

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GB/T 5095.2503-2021电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减.pdf

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ICS31.220.10

L23

中华人民共和国国家标准

GB/T5095.2503-2021/IEC60512-25-3:2001

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-3部分:试验25c:上升时间衰减

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment-

Basictestingproceduresandmeasuringmethods一

Part25-3:Test25c:Risetimedegradation

CIEC60512253:2001,Connectorsforelectronicequipment一

Testsandmeasurements-Part253:Test25c:Risetimedegradation,IDT)

2021-03-09发布2021-10-01实施

国家市场监督管理总局Lg.-/;-

国家标准化管理委员会保叩

GB/T5095.2503-2021/IEC60512-25-3:2001

目次

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记标上标插程说样装设备设施术语范围

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