常用电子元器件的测量.ppt

②替代法替代法可以有效地消除由于分布电容或引线电感所造成的测量误差。（a）并联替代法测量小电容测量电路如图4-34所示，图中CS为标准电容，其容量可调，并可直接读出，本测量方法适用于CX的容量小于CS变化范围的情况。则被测电容为：第96页,共98页，2024年2月25日，星期天（b）串联替代法测量大电容测量电路如图4-35所示，本测量方法适用于CX的容量大于CS变化范围的情况。测量时，先将A、B端短路，调节标准电容CS使之处于较小值，设为，再调节信号源频率使回路谐振，然后断开A、B端连线，接入被测电容CX，保持信号源频率不变，调节CS至使电路重新谐振。CX与串联的效果等效于，即第97页,共98页，2024年2月25日，星期天感谢大家观看第98页,共98页，2024年2月25日，星期天测量运算放大器开环输入阻抗的电路如图4-19所示。为了避免运算放大器在开环状态上由于输入失调电压的影响处于饱和状态，首先调节电位器RP，使运算放大器输出的直流电压为0±0.1V，然后调节信号发生器的输出电压US，使运算放大器输出交流电压Uo的值在1V附近，记为Uo1。第二步，将图4-19中两个RX的电阻换成两个1kΩ的电阻，测得运算放大器的输出交流电压为Uo2，从而有第64页,共98页，2024年2月25日，星期天运算放大器开环增益Au的测量Au的测量方法仍采用如图4-19所示的测量运算放大器的输入阻抗的方法。由于，且所以有第65页,共98页，2024年2月25日，星期天运算放大器转换速率Sr的测量运算放大器能够将正弦信号转化为矩形波，这种大信号工作特性一般用Sr来表征，可以用示波器来测量，具体测量电路如图4-20所示。U（t）为低频（100Hz）方波，。第66页,共98页，2024年2月25日，星期天集成芯片的在线测试：（a）电阻测量法（b）电压测量法（c）信号注入法下面以调频信号解调芯片upc1353为例第67页,共98页，2024年2月25日，星期天第68页,共98页，2024年2月25日，星期天（2）数字集成电路的测试数字集成电路处理的是以0、1为特征的数字电压。数字集成电路的电特性主要是数字电路的电特性，最主要的有输入/输出电平、输入/输出电流、转换时间、延迟时间、功率消耗等。这些电特性的测试，完全可以参照模拟集成电路的方法，按照技术要求设置电路工作条件，然后选用合适的测试仪器来完成。数字集成电路的功能，主要体现在逻辑关系与时序关系上。这方面的测试可以选用集成电路测试仪进行便捷的测试，也可以选用逻辑分析仪进行仔细的研究。除专用的集成电路测试仪外，在工程应用中，对于常用的中小规模数字集成电路，常常用通用编程器进行功能测试，如普遍使用的SUPERPRO系列、ALL11P、LABTOOL-48等，这是一种能对MTP/OTP单片机、EEPROM、FLASHROM、GAL、PAL、PLD、EPLD、RAM等近万种常用数字集成电路进行编程与测试的工具，支持8～300个引脚、多种封装、多种供电电压，并可对74/75系列、CMOS4000系列、常用RAM等进行逻辑功能测试，其价格低廉、适用方便，支持的可编程芯片在不断增加，因而在产品开发、生产、维修等场合得到了十分广泛的应用。第69页,共98页，2024年2月25日，星期天2．集成电路测试仪集成电路测试仪（或测试系统）是用于集成电路设计、验证、生产测试的专用仪器（系统），按测试门类可分为数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。由于这些测试仪的测试对象、测试方法以及测试内容都存在差异，因此各系统的结构、配置和技术性能差别较大。下面以YB3111型数字集成电路测试仪为例加以介绍。（1）主要特点YB3111型数字集成电路测试仪是一种由微处理器控制的智能化测量仪器，能在较短的时间内测试出器件的好坏，能自动识别并显示出被测器件的型号。该测试仪具有以下主要特点：①采用微处理器控制工作，测试结果精确，自动化程度高。②能对近900种54/57系列的TTL数字集成电路进行测试（封装形式分为14、16、20双列直插）。③能以PASS（合格）、FALL（不合格）、OVERCURRENT（耗电流超标准）形式指示出被测器件的好坏。④具有连续测试功能，特别适用于对器件的老化或稳定状况进行监测。