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数字电子技术基础实验
实验报告要求
实验题目
实验时间、地点（实验报告纸上面的抬头都要填写清楚）实验要求（目的）
实验器材实验原理
实验步骤（包含电路设计图）实验记录
结果分析（分析所得到的实验结果，与理论上的结果相比较，是否正确验证了理论的正确性，如果结果不符，问题出在哪里，应如何解决）
实验体会（本次实验中的收获、遇到的问题及解决方法，以及个人的体会）
思考题（对本次实验的深入扩展）
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实验一 TTL门电路逻辑功能测试
实验时间：
实验时数：2学时实验目的：
熟悉数字电路实验箱的工作原理；
掌握数字电路实验箱使用的方法，及数字电路实验的基本步骤；
掌握门电路逻辑功能的测试方法；
实验器材：
1．数字逻辑实验箱、万用表
2．74LS00
二输入端四与非门
2片
CC4011
二输入端四与非门
1片
3．连接导线
若干
实验原理：
(1) 74LS00
引脚图及逻辑功能：
(2) CC4011
实验内容：
TTL门电路——与非门74LS00逻辑功能测试。Y=(AB)’
输入端接逻辑开关，输出端接指示灯，改变输入状态的同时观察输出状态，并使用万用表测试输出端电压，自制表格来记录实验结果。如表1-1。
表1-1
输入
输出
A
0
B
0
Y
电压（V）
0
1
1
0
1
1
CMOS门电路——与非门CC4011逻辑功能测试。具体要求同实验1。
逻辑电路的逻辑关系。
用74LS00按照下图连线，并以表格的形式记录输出结果，同时要求使用万用表测试输出端电压并记录。
用与非门组成异或门并加以验证。要求：
将异或门表达式转化为与非门表达式；
画出逻辑电路图；
用实验测试并用表格记录实验结果。
思考题：
TTL门电路与CMOS门电路在使用过程中，闲置的输入端应如何处理？
实验重点：
数字电路实验箱使用；
数字电路实验的基本操作步骤的掌握。
实验难点：
TTL门电路与CMOS门电路在使用上的区别，及需注意的事项。
实验二 SSI组合逻辑电路
实验时间：
实验时数：2学时实验目的：
加深理解用SSI（小规模数字集成电路）构成的组合逻辑电路的分析与设计方法。
实验器材：
1．数字实验箱
2．74LS00 二输入端四与非门 2片
74LS54 四组输入与或非门（2-3-3-2输入端） 1片
74LS86 二输入端四异或门 2片
实验原理：
组合逻辑电路是最常见的逻辑电路之一，其特点是在任一时刻的输出信号仅取决于该时刻的输入信号，而与信号作用前电路原来所处的状态无关。
组合逻辑电路的设计步骤：根据逻辑电路图写出逻辑表达式化简逻辑表达式（公式法、卡诺图法）画出逻辑真值表分析得出逻辑电路解决的实际问题（逻辑功能）。
（1）74LS86引脚图
（2）74LS54引脚图
实验内容：
1、设计一个判断一位二进制数A与B大小的比较电路。要求：
画出逻辑图（用L1、L2、L3分别表示三种状态，即L1（AB），L2
（AB），L3（A=B）。
设A、B分别接至数据开关，L1、L2、L3接至逻辑显示器（灯），将实验结果记入下表。
表2-1
2、设计一个监视交通信号灯工作状态的逻辑电路。图中用R、Y、G分别表示红、黄、绿三个灯的状态，并规定灯亮时为1，不亮时为0。用L表示故障信号，正常工作时L为0，发生故障时L为1。试分析R、Y、G出现哪五种状态时，要求逻辑电路发出故障信号（L为1）。
要求：画出逻辑图，按图接线，将结果记入下表。
表2-2
3．用与非门、与或非门和异或门组成的全加器，如下图所示。要求：按图
接线，验证理论分析结果，并将结果记录在表2-3。
C
C
n-1
=1
S
n
A
n
B
n
=1
+
C
n
表2-3
0
0
1
1
0
0
1
1
0
0
0
0
1
1
1
1
被加数An0
被加数An
0
1
0
1
0
1
0
1
输入端
加数Bn
低位进位Cn-1
全加和Sn
输出
进位Cn
点：
组合逻辑电路的分析与设计方法。
实验难点：
灵活运用各种小规模集成电路进行任意组合逻辑电路的设计实现。
实验三 MSI组合逻辑电路
实验时间：
实验时数：2学时实验目的：
1、了解编码器、译码器、数据选择器等中规模数字集成电路（MSI）的性能及使用方法。
2、用集成译码器和数据选择器设计简单的逻辑函数产生器。。
实验器材：
1．数字实验箱
2．74LS151
8选1数据选择器
2片
74LS138
3线—8线译码器
2片
实验原理：
1．数据选择器的典型应用之一——逻辑函数产生器
带有互补输出的八选一数据选择器74LS151的外引线排列图和功能表分别
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