材料近代分析测试方法复习试卷5.docx

南华大学《材料近代分析测试方法》课程考试样卷 5 ： 号 一、 单项选择题（每题 2 分，共 10 分） 学 1．成分和价键分析手段包括【 】 a） WDS 、能谱仪（ EDS）和 XRD （b） WDS 、 EDS 和 XPS 线 线 （ c） TEM 、 WDS 和 XPS （ d） XRD 、FTIR 和 Raman 2．分子结构分析手段包括【 】 （ a）拉曼光谱（ Raman）、核磁共振（ NMR ）和傅立叶变换红外光谱（ FTIR ） （ b）NMR 、 FTIR 和 WDS （ c） SEM、 TEM 和 STEM （扫描透射电镜） （ d） XRD 、 FTIR 和 Raman 3．表面形貌分析的手段包括【 】 （ a） X 射线衍射（ XRD ）和扫描电镜（ SEM ） (b) SEM 和透射电镜（ TEM ） (c) 波谱仪（ WDS ）和 X 射线光电子谱仪（ XPS ） (d) 扫描隧道显微镜（ STM ）和 封 订 SEM 4．透射电镜的两种主要功能： 【 】 ： （ a）表面形貌和晶体结构 （ b）内部组织和晶体结构 名 姓 （ c）表面形貌和成分价键 （ d）内部组织和成分价键 5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括： 【 】 密 装 ： 级 班 业 专 （ a）– C-H 、– OH 和– NH2 (b) – C-H 、 和– NH2, (c) – C-H 、 和-C=C- (d) – C-H 、 和 CO 二、判断题（正确的打√，错误的打×，每题 2 分，共 10 分） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。 （ ） 2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。 （ ） 3．透镜的数值孔径与折射率有关。 （ ） 4． 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。 （ ） 5．在样品台转动的工作模式下， X 射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。（ ） 三、简答题（每题 5 分，共 25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么 ? 2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？ 3.在核磁共振谱图中出现多重峰的原因是什么？ 4．什么是化学位移，在哪些分析手段中利用了化学位移？ 5.拉曼光谱的峰位是由什么因素决定的 , 试述拉曼散射的过程。 四、问答题 （10 分） 说明阿贝成像原理及其在透射电镜中的具体应用方式。 五、计算题（ 10 分） 用 Cu K α X 射线（ λ =0.15405nm ）的作为入射光时，某种氧化铝的样品的 XRD 图谱如下， 谱线上标注的是 2θ 的角度值，根据谱图和 PDF 卡片判断该氧化铝的类型，并写出 XRD 物 相分析的一般步骤。 六、简答题（每题 5 分，共 15 分） 1．透射电镜中如何获得明场像、暗场像和中心暗场像？ 2． 简述能谱仪和波谱仪的工作原理。 3． 电子束与试样物质作用产生那些信号？说明其用途。 ： 号 七、问答题 学1．根据光电方程说明 X 射线光电子能谱（ XPS）的工作原理。 以 Mg K α 射线 ( 能量为 1253.8 eV) 为激发源，由谱仪（功函数 线 981.5eV ，求此元素的电子结合能。 （ 5 分）  (5 分) 4eV ）测某元素电子动能为 封2．面心立方结构的结构因子和消光规律是什么？（ 8 分） ： 如果电子束沿面心立方的 【 100】晶带轴入射， 可能的衍射花样是什么， 并对每个衍射斑点予以 标注？（ 7 分） 名 姓 密 ： 级 班 业 专