限用物质检测培训.pptx

限用物质的检测;一、IEC 62321对限用物质浓度测定 二、有害物质检测指定试验室特定规范 三、XRF检测实务 四、XRF应用实例 五、检测管制 六、检测报告应注意事项;(IEC 62321/CDV) 与SJT11365-2006 电子电气产品中 限用的六种物质浓度的测定程序;章节一．．．．．范围 章节二．．．．．参考文献 章节三．．．．．定义 章节四．．．．．检测方法概述 章节五．．．．．用XRF光谱筛选法 章节六．．．．．电子信息产品中多溴联苯（PBB） 与多溴联苯醚（PBDE）的测定方法 章节七．．．．．电???信息产品中汞的测定方法 章节八．．．．．比色法测定电子信息产品中的六价铬 附录A ．．．．．限用物质检测过程中的机械制样方法;提供了对电子信息产品中含有的铅，汞，镉，六价铬和 两种溴化物阻燃剂——多溴联苯和多溴联苯醚进行测定 的检测方法。 从WEEE指令附录ⅠA ? 大型家电（例如：冰箱） ? 小型家电（例如：吸尘器） ? 信息技术及远程通讯设备（例如：计算机） ? 消费性设备（例如：电视） ? 照明设备（例如：日光灯） ? 电动工具（例如：钻孔机） ? 玩具与休闲及运动设备（例如：电动游戏机） ? 自动贩卖机（例如：冷饮贩卖机） ;?a)电机和电子设备中减少使用特定有害物质的 指令(RoHS) ?b) 预防和控制电子信息产品污染的管理办法 ?c) 美国（加利福尼亚）电子废物回收法令 2003(S.B. 20) ?d) 美国（加利福尼亚）电子废物及其处理费法令 (S.B. 50) ?e) 该测试程序参考数据中其它的参考文献;3.9 均匀材料：homogeneous materials 由一种或多种物质组成的各部分均匀一致的材料。 (单元部件不能被机械力拆解,分离成不同材料或 不能被机械性地分割(拆开、切或磨)分为不同材料组成。 例一：塑料外壳 例二;3.11 X-射线荧光光谱：(XRF)X-Ray fluorescence spectrumetry 用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。 而对物质成分进行定性和定量分析的方法。 分为: 1.波长散射型（WDXRF）荧光光谱 2.能量散射型（EDXRF）荧光光谱仪。  3.12波长散射型（WD-XRF）荧光光谱： wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrumetry 试样中被测元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的乔迁， 同时发射出具有一定特征波长的X射线。根据测得谱线的波长和 强度来对被测元素进行定性和定量分析。;3.13 能量散射型（ED-XRF）荧光光谱： energy dispersive X-ray fluorescence spectrumetry 试样中被测元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的乔迁， 同时发射出具有一定能量的X射线。利用具有一定能量分辨率的 X射线探测器探测试样中被测元素所发出的各种能量特征X射线， 根据探测器输出信号的能量大小和强度来对被测元素进行 定性和定量分析。 3.19 气相色谱仪/质谱仪（GC/MS） gas chromatography - mass spectrometry 将气相色谱仪与质谱仪气连接起来，利用气相色谱高效的分离能力 与质谱的特征检测来对有机化合物进行定性与定量分析的方法 。;3.20.电感耦合等离子体原子发射光谱：（ICP－AES/OES） inductively coupled plasma atomic emission spectrometry 利用高频等离子体使试样原子化或离子化，通过测量激发原子 或离子的能量对应的波长来确定试样中存在的元素。 3.21电感耦合等离子体质谱法：（ICP－MS） inductively coupled plasma mass spectrometry 通过高频等离子体使试样离子化的方法确定试样所含的目标元素。 用质谱仪测出产生的离子数量，并由目标元素值/荷比来分析目标 元素及其同位素。 ;3.22 原子吸收光谱法：(AAS) atomic absorption spectrometry 用火焰或化学反应等方式将欲分析试样中待测元素转变自由 原子，通过测量蒸气相中该元素的基态原子对特征电磁辐射 的吸收，以确定化学元素含量的方法。 3.23 冷蒸气原子吸收光谱法：(CVAAS ) cold vapour generation atomic absorption spectrometry 将欲分析试样中的汞离子，还原成自由原子