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膜表征方法简介 姓名：王栋 专业：化学工程  电子显微镜法 电子显微镜是用于膜表征的一种设备，可以分成两种：扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）。对于研究和表征微滤膜的多孔结构，可以对膜的表面和横断面进行观察。 简单电子显微镜的分辨率为0.01μm(10nm)，更高级电子显微镜的分辨率可达5nm左右（微滤膜的孔径为0.1~10μm）。 扫描电子显微镜是用于表征微滤膜的简单而有效的仪器。对表层、横断面和底层可得到清晰又简洁的图象。 原理：一束动能为1-25V的入射电子（又称为一次电子）撞击在膜试样上，从试样表面原子中撞击出二次电子，这些二次电子在检测器的屏幕上形成一定的图象。为避免试样被烧坏，可在表面上覆盖一层导电层防止表面带电，通常 用金制薄层，即喷金。 原子力显微镜-AFM 原子力显微镜（AFM）是一种检测表面结构的方法，根据AFM图象的横截面可以得到孔径及孔隙率，这种方法的优点是试样无需预处理，且可在大气条件下进行测量，其缺点在于，如表面粗糙会使检测结果很难分析。此外，作用力较大时有可能损坏聚合物的结构。 原子力显微镜是用来表征膜表面的一种新方法。直径小于10nm的非常尖的探针以恒定的力扫过被测表面时，样品表面和微型力敏感元件之间极微弱的原子会发生相互作用力，通过检测这些力就可得到样品表面的扫描结果。运用微悬臂，可以实现在很小相互作用力下的检测，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面结构信息。 泡压法 泡压法是测定微孔滤膜最大孔径和平均孔径法方法。这种方法的原理是测定气体通过充满液体的膜所需要的压力。膜的上面与液体（如水）接触，并且所有膜孔内都充满液体，使膜润湿，过滤器底部与空气相连，当氮气压力逐渐增大到一定量时，气泡会通过膜。当膜面出现第一个气泡时所对应的压力，就是膜最大孔径的压力，膜上气泡出现最多是所对应的压力为膜的最小孔径压力。压力与孔半径之间的关系由Laplace方程确定。 滤速法 假设存在毛细管孔利用Hagen-Poiseuille方程通过测量在一定压力下通过膜的通量可得到孔径。 通过改变压力即将泡点法和渗透法相结合，可以测定孔径分布。 通过上式计算出膜的水渗透率即膜的水通量。 带入膜的孔隙率 膜的孔半径： 压汞法 压汞法是把汞注入干膜中，并在不同压力下测定汞的体积。压力和孔径的关系仍满足Laplace方程。由于汞不同润湿膜（接触角大于90度），汞与聚合物材料的接触角一般为141.3度，汞/空气界面的表面张力为0.48N/m，因此Laplace变为： 在一定压力下汞渗入膜微孔中，汞位的变化反应了样品膜中汞体积的变化，它通过铂电极电阻的变化来表示，由各压力下汞进入膜样品的累积体积，可得孔径-孔百分比的累积曲线，微分后得到孔径分布曲线 干湿膜空气滤速法 当空气通过干膜时，渗透流率随压力增加呈线性关系；而通过湿膜时，在泡点压力处仅最大孔径有气体通过；当压力再逐渐增加时，才能使越来越多的孔打开通道让气体从中通过。 流速-压力关系如图所示，平均孔径所对应的压力是指通过湿膜的渗透流率仅为干膜的一半时所用的压力。将湿膜的曲线微分就可得到孔径分布曲线。 溶质截留率测定法 超滤膜的分离效率通常用截留率来表示，是指对一定相对分子质量的物质截留的程度，其公式如下： 其中，R为膜的截留率；cf为进液浓度即原液浓度，cp为透过膜液的浓度即产液的浓度。 通常把能截留90%某种物质的相对分子量作为该膜的截留范围，称为截留相对分子量。超滤膜的孔径范围从0.001-0.02μm，截留相对分子质量一般从1000到100000左右。 脱盐率 实际应用中反渗透中用以表示膜的分离性能的最常的指标是脱盐率，表明膜能脱除水溶液中盐的百分数，一般用R（Rejection）表示。有两种表示方法 R0=（1-C3/C1）×100% Rr=（1-C3/C2）×100% Rr-膜的真实脱盐率 R0-膜的表观脱盐率 C1-膜高压侧水溶液中溶质的本体浓度，g/cm3 由于在反渗透过程中存在着浓差极化现象，所以- C2> C1, R0> Rr。在实验中一般难以测得膜高压侧界面上的浓度，所以实际应用中都以R0计算。 水通量 反渗透膜的水通量也称透水速率或水渗透流率。单位时间内通过单位膜面积的水体积流量，它表示反渗透膜的透量大小，表达式为： Fw=A(Δp-Δπ) A-膜的纯水渗透系数，表示膜中水的渗透能力，cm3/(cm2s.MPa) Δp-膜两侧的压力差，MPa Δπ-膜两侧的渗透压差，MPa 特别地，超滤膜的水通量，其表示方法与反渗透膜纳滤膜相同，鉴于浓差极化对膜的透水速率影响极大，故超滤膜的水通量常用纯水透过速率来表示膜水通量的大小。 膜的压密性 反渗透一般在较高压力下运行， 高分子膜长