千分尺检定作业规程嘉兴梅林精密机械有限公司企业统一标准.doc

嘉兴梅林精密机械企业标准 千分尺检定规程 QJ/ML11-01-20XX 目标 本规程要求了千分尺检定规程 本规程适适用于本企业千分尺计量检定 技术要求和检定方法 外观 要求 千分尺及其校对用量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其它缺点，刻线应清楚、均匀。 千分尺应附有调整零位工具测量上限大于25mm千分尺应附有校对用量杆。 千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。 使用中和修理后千分尺及其校对用量杆不应有影响使用正确度外观缺点。 检定方法：目力观察。 各部分相互作用 要求 微分筒转动和测微螺杆移动应平稳无卡住现象。 可调或可换测砧调整或装卸应顺畅，作用要可靠，锁紧装置作用应切实有效。 带有表盘千分尺，表针移动应灵活，无卡滞现象。 检定方法 试验和目力观察 测微螺杆轴向串动和径向摆动。 要求：测微螺杆轴向串动和径向摆动均小于0.01mm。 检定方法 测微螺杆轴向串动，用杠杆千分表检定，检定时，使杠杆千分表和测微螺杆测微量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力3N~5N。 测微螺杆径向摆动示用杠杆千分表检定，检定时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再往杠杆千分表测量方向加力2N~3N，然后以相反方向加力2N~3N，这一检定应在相互垂直两个径向方向检定。 测砧和测微螺杆工作面相对偏移 要求 千分尺测砧和测微螺杆工作面相对偏移量应小于JJG21-95标准中要求。 检定方法 在平板上用杠杆百分表检定，对于测量范围大于300mm千分尺用百分表检定，检定时借助千斤顶将千分尺放置在平板上，依据JJG21-95要求，调整千斤顶使千分尺测微螺杆和平板工作面平行，然后用百分表测出测砧和测微螺杆在这方位上偏移量x，然后将尺架侧转90°按上述方法测出测砧和测微螺杆在另一方位上偏移量y，测砧和测微螺杆工作面相对偏移量Δ按下式要求 Δ=√x2+y2 此项检定也可用其它专用检具检定。 测力 要求 千分尺测力（指工作面和球面接触时所作用力）应在6N~10N范围内。 检定方法 用分度值小于0.2N专用测力计检定，检定时，使工作面和测力计球工作面接触后进行。 刻线宽度及宽度差 要求 固定套管纵刻线和微分筒上刻线宽度为0.15~0.20mm，刻线宽度差应小于0.03mm，刻线盘刻线宽度为0.20~0.30mm，刻线宽度差应小于0.05mm。 检定方法 在工具显微镜上检定，微分筒或刻线盘上刻线宽度最少任意抽检三条刻线。 指针和刻线盘相对位置 要求 板厚千分尺刻度盘上指针末端应盖住刻线盘短刻线长度30~80%，指针末端上表面至刻度盘表面距离应小于0.7mm，指针末端和刻度盘刻线宽度应一致，差值应小于0.05mm。 检定方法 指针末端和刻度盘短刻线相对位置可用目力估量，指针末端上表面至刻度盘表面距离应用塞尺进行检定，上述检定应在刻度盘上均匀分布三个位置上进行，指针末端和刻度盘刻线宽度差在工具显微镜上检定。 微分简锥面端面棱边至固定套管刻线面距离。 要求 微分筒锥面端面棱边至固定套管刻线面距离应小于0.4mm。 检定方法 在工具显微镜上检定，也可用0.4mm塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定，检定时在微分筒转动一周内不少于三个位置进行。 微分筒锥面端面和固定套管毫米刻线相对位置 要求 当测量下限调整正确后，微分筒上零刻线和固定套管纵刻线对按时，微分筒端面和固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线小于0.05mm，离线小于0.1mm。 检定方法 当测量下限调整正确后，使微分筒锥面端面和固定套管任意毫米刻线右边缘相切时，读取微分筒零刻线和固定套管纵刻线偏移量。 工作面表面粗糙度 要求 外径千分尺和校对量杆工作面表面粗糙度Ra 应小于0.05μm，壁厚、板厚千分尺工作面表面粗糙度Ra应小于0.1μm。 检定方法 用表面粗糙度比较样块用比较法检定。 工作面平面度 要求 零级外径千分尺工作面平面度小于0.6μm，一级外径千分尺工作面平面度小于1μm，壁厚千分尺测微螺杆工作面平面度应小于1.2μm，板厚千分尺工作面平面度应小于1μm。 检定方法 用二级平晶用技术光波干涉法检定，对于使用中可用1级刀口尺用光隙法检定，工作面直径为6.5mm，距离边缘0.2mm范围内不计，对于8mm，距离边缘0.5mm范围内不计。 工作面平行度 要求 当外径千分尺锁紧装置紧固和松开时，千分尺两工作面平行度应小于JJG21-95要求。 检定方法 测量上限至100mm千分尺两工作面平行度用平行平晶检定，也可用量块检定，零级外径千分尺用4等量块检定，1级外径千分尺，板厚千分尺用5等量块检定，测量上限大于100mm千分尺两工作面平行度按JJG21-95要求所表示钢球检具检定。 两工作面平行度也可用其它对应正确度仪器检定。 使用平行平晶检定时，依次将4块厚度差为1/