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第五章习题
在一个n型半导体样品中,过剩空穴浓度为 1013cm3,空穴的寿命为100us
计算空穴的复合率
已知: _ p = 1013 / cm J . =100
求:U =:?
解:根据.=U-
得>10 --=
得:
10
13
6
100 >10 --
=10
17
3
/cm s
用强光照射n型样品,假定光被均匀地吸收,产生过剩载流子,产生率为
空穴寿命为.0
写出光照下过剩载流子所满足的方程;
求出光照下达到稳定状态时的过载流子浓度
解:均匀吸收,无浓度 梯度,无飘移。
TOC \o "1-5" \h \z d. :p . :p
gL
dt t
t
方程的通解: Up(t) = Ae賀一 gL .
(2)达到稳定状态时, =0
dt
gL =0.
T
p = g
有一块n型硅样品,寿命是1us,无光照时电阻率是 Wcm今用光照射该 样品,光被半导体均匀的吸收,电子-空穴对的产生率是1022cm3"-1,试计算光 照下样品的电阻率,并求电导中少数在流子的贡献占多大比例?
光照达到稳定态后 .一"卩+ g L = 0
T
JL A 22 “ 16 _3
■ ■■p=- ■■-n = g . = 10 10 10 cm
1
光照前:「0 10〔 | cm
n°q j ' P°q "p
光照后:;i =np % ' pq % = n°q 亠-p°q 讥’厶nq 二’,pq "p
16 丄 , 16 —19
-0.10 - 10 1 .6 10 1350 - 10 1.6 10 500
=0.1 2.96 = 3.06 s/ cm
0.32〔 'cm .
ff
TOC \o "1-5" \h \z 少数载流子对电导的贡 献
■/ Ap A p0 .所以少子对电导的贡献 ,要 .■:p的贡献.
16 」9
= p9u p 10 1 .6 10 一 500 0.8
1 26 %
CT 3.06 3.06
一块半导体材料的寿命z=10us,光照在材料中会产生非平衡载流子,试求光 照突然停止20us后,其中非平衡载流子将衰减到原来的百分之几?
-p(t) = . :p(0)e
.:p(20)p(0)20H0 =e
.:p(20)
p(0)
20
H0 =e
=13.5%
光照停止 20 ■ 's后,减为原来的
13.5%。
5. n型硅中,掺杂浓度N=10 _3 4 3则 n0 =10 cm , p0
_3 4 3
则 n0 =10 cm , p0 =2.25 10 / cm
n = n o ; n, p = p 0 * = p
无光照 :二0 =n°q 7 ■ P°qUp :“ n°q7
16 ?
=10 1.6 10 1350 = 2.16 s/ cm
有光照:
二二 nq^n ' Pq ^p
= n0q% ' P°qnq (?」p)
_L9
:? 2.16 - 10 1 .6 10 (1350 500 )
= 2.16 0.0296 = 2.19s/ cm
(注:掺杂10 16 cm山的半导体中电子、
空穴的迁移率近似等于 本征
半导体的迁移率)
10 . 14 3
设 T 二 300 K ,n i =1.5 10 cm .二n - . ■:p =10 / cm
1510+10” E
15
10
+10
” EFn
-Ei
n = ni e
k
j
oT
Ei
— Efp
i p — nie
D
k°T
.5 1010)2
3
14 14 —
10 / cm
6.画出p型半导体在光照(小注入)前后的能带图,标出原来的的费米能级和
光照时的准费米能级
Ec
"Ec
Ei
Ei
—EFn
Ef
Efp
Ev
Ev
光照前
光照后
7.掺施主浓度N=1015cm3的
n型硅,
由于光的照射产生了非平衡载流子
n= p=1014cm-3。试计算这种情况下的准费米能级位置,并和原来的费米能级 作比较。
强电离情况,载流子浓
TOC \o "1-5" \h \z 3
= 1.1 10 / cm
2
直 ni 14
p 二 p° ip 10
N
EFn二Ej koTlnEFn-Ei二 ko「n151.1 100.291eV101.5 10efp-k Tln — 0 piefp
EFn
二Ej koTln
EFn
-Ei
二 ko「n
15
1.1 10
0.291eV
10
1.5 10
efp
-k Tln — 0 p
i
efp
-E
i
14
10
=-k Tin 0.229eV
0 1.5 X1010
平衡
时ef
N
-E =k Tin ―D i o n i
1014
二 koTln 荷"289eV
1.5 X10 10
二 E; -Ef =0.0025eV
p
E; —E p = 0.0517
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